元器件测量 RM3542, RM3542-01
实现了自动化系统中所要求的速度和高精度
双重检查功能保证准确接触，实现可靠性测试
可用于集成电路片电感器和EMC对应零件的低能耗电阻测量
可用于制造工程中手动的取样检查
单元中不包含试验夹具。请在购买时选择配套的试验夹具。
(预热时间：30分钟以上)
Product Attachment
元器件测量 RM3542, RM3542-01 (用于测量低电阻)
- 元器件测量 RM3542, RM3542-01 (用于测量低电阻)
- RM3542, RM3542-01
- Hioki
- JP [Japan]
- 2015-03-30 16:42
- 2016-07-12 12:17
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